电镜主要分为哪两大类

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电子显微镜(Electron microscope,EM)是一种使用电磁波的原理来观察微小物体的仪器,是研究微微观世界的重要工具。根据其工作原理和应用领域的不同,电子显微镜可以分为两大类:扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,SEM)和透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,TEM)。

扫描电子显微镜(SEM)

扫描电子显微镜(SEM)是一种能够快速扫描样本表面的电子显微镜。它通过将高能电子束扫描样品表面,产生电子图像来观察样品。SEM 可以用于观察金属、半导体、陶瓷等材料的表面结构和形貌。由于SEM的扫描速度非常快,因此可以用来观察高速运动物体的表面,如液体金属中的电子束。

透射电子显微镜(TEM)

透射电子显微镜(TEM)是一种能够观察物质内部结构的电子显微镜。它通过将高能电子束透过样品,产生电子图像来观察样品。TEM 通常用于观察金属、半导体和其他非晶体材料的内部结构。TEM 可以通过使用不同的样品制备技术和分析方法来观察各种不同的物质结构,如晶体结构、电子学器件和纳米结构等。

两种电子显微镜的比较

SEM和TEM是两种不同的电子显微镜,它们的适用范围和优缺点有所不同。

SEM适用于观察快速运动物体的表面和结构,例如液体金属中的电子束。但是,SEM的分辨率较低,因此不适用于观察微小的结构细节。

TEM适用于观察物质内部结构,可以提供更高的分辨率。但是,TEM需要将电子束透过样品,因此需要更长的曝光时间。

SEM和TEM的组合可以提供更好的观察效果。通过使用SEM观察表面结构,使用TEM观察内部结构,可以获得更全面的信息。

结论

电子显微镜是一种非常重要的研究工具,可以让我们观察到微观世界的奇妙之处。根据工作原理和应用领域的不同,电子显微镜可以分为两大类:扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)。SEM适用于观察快速运动物体的表面和结构,TEM适用于观察物质内部结构。